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剩余電阻比測量 鈮-鈦(Nb-Ti)和鈮三錫(Nb3Sn)復合超導體剩余電阻比測量

標 準 號: GB/T 25897-2020
替代情況: 替代 GB/T 25897-2010
發(fā)布單位: 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標準化管理委員會
起草單位: 西部超導材料科技股份有限公司、中國科學院物理研究所、有研工程技術研究院有限公司
發(fā)布日期: 2020-12-14
實施日期: 2021-07-01
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更新日期: 2022年03月03日
內容摘要

本標準規(guī)定了無應變、無外加磁場條件下銅(Cu)、銅-鎳(Cu-Ni)、銅/銅-鎳(Cu/Cu-Ni)基體和鋁(Al)基體的鈮-鈦(Nb-Ti)和鈮三錫(Nb3Sn)復合超導體剩余電阻比(RRR)的測試方法。本標準適用于剩余電阻比值低于350、橫截面小于3 mm2、具有矩形或圓形橫截面的一體化超導體的剩余電阻比的測量。對于Nb3Sn復合超導體,樣品經反應熱處理。

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