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納米材料晶粒尺寸及微觀應(yīng)變的測(cè)定 X射線衍射線寬化法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 23413-2009
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 鋼鐵研究總院、首鋼技術(shù)研究院
發(fā)布日期: 2009-04-01
實(shí)施日期: 2009-12-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2025年03月01日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了利用X射線衍射線寬化法來(lái)測(cè)定納米材料晶粒尺寸和微觀應(yīng)變的方法。本標(biāo)準(zhǔn)采用的計(jì)算方法是近似函數(shù)法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)定晶粒尺寸一般不大于100nm,微觀應(yīng)變一般不大于0.1%的納米材料。

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